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GB/T 32282-2015氮化鎵單晶位錯密度的測量　陰極熒光顯微鏡法

中文名稱：氮化鎵單晶位錯密度的測量　陰極熒光顯微鏡法

英文名稱：Test method for dislocation density of GaN single crystal—Cathodoluminescence spectroscopy

標準號：GB/T 32282-2015

標準類型CN

發布日期：2015-12-10

實施日期：2016-11-1

摘要：

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