GB/T 32188-2015氮化鎵單晶襯底片X射線雙晶搖擺曲線半高寬測試方法
中文名稱：氮化鎵單晶襯底片X射線雙晶搖擺曲線半高寬測試方法
英文名稱：Test method for full width at half maximum of double crystal X-ray rocking curve of GaN single crystal substrate
標準號：GB/T 32188-2015
標準類型CN
發布日期：2015-12-10
實施日期：2016-11-1
摘要：
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