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GB/T 31351-2014碳化硅單晶拋光片微管密度無損檢測方法

中文名稱:碳化硅單晶拋光片微管密度無損檢測方法

英文名稱:Nondestructive test method for micropipe density of polished monocrystalline silicon carbide wafers

標準號:GB/T 31351-2014

標準類型CN

發布日期:2014-12-31

實施日期:2015-9-1

摘要:

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